Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Леонид Левин, Алексей Карфидов, Софья Малявина
Ключ к безопасности: учёные усилили квантовую криптографию с помощью нейросети
Сцена торжественного мероприятия «С наукой в сердце»
Учёный НИТУ МИСИС с лаборатории